胡卓超
,
刘沿东
,
赵骧
,
左良
,
王福
,
Claude ESLING
材料研究学报
doi:10.3321/j.issn:1005-3093.2004.05.005
利用透射电子显微镜观察(TEM)和X射线衍射技术(ODFs分析),研究了电场对Al-Mn-Mg合金的回复和再结晶组织演变、再结晶织构的形成和发展的影响.结果表明,电场对再结晶的影响其强度有一个门槛值(3～4 kV/cm),低于此值电场对该合金的再结晶没有明显的影响.强度为4 kV/cm的电场对再结晶形核的影响较大,可抑制Al-Mn-Mg合金的回复和再结晶,促进再结晶立方织构的形成.其主要原因是电场降低了各取向的形变储能,推迟了再结晶进程,抑制储存能小的取向晶核的形成和长大,促进储存能大的S取向晶粒向立方织构择优生长.
关键词:
金属材料
,
Al-Mn-Mg合金
,
电场
,
回复
,
再结晶
,
织构
